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Product Category詳細介紹
品牌 | 自營品牌 | 價格區間 | 面議 |
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測量模式 | 交流 | 產地類別 | 進口 |
應用領域 | 能源,電子 | Lamp Wavelength Range | 250nm~2500nm |
Measuring Wavelength Range | 300nm~1200nm | Jsc Un-Repeatability | ≦ 0.1% |
Jsc Uncertainty | ≦ 0.2% | Dark box | 800mm x 800mm x 920mm |
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 的特色如下:
*高度準確且低不確定性
QE-RX 的校準是NIST 可追溯的,這使得 QE-RX 的測試數據的不確定性低于任何其他 EQE 測試系統。同時,QE-RX 是由Enlitech 開發的,Enlitech 擁有 10 年的ISO / IEC 17025 認證的校準實驗室。這使得 QE-RX 對 Si 太陽能電池的測試結果高度準確。依靠 QE-RX,它將為您提供可靠的結果。
*結構緊湊但功能多樣
QE-RX 將所有光學和機械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主體內,其中包括電信號采集鎖相放大器。不限于其緊湊的尺寸,QE-RX 仍然提供各種測試數據,包括太陽能電池的 EQE、光譜響應、反射率和 IQE。緊湊而多功能是 QE-RX 的優勢。
*功率損耗分析
QE-RX 結合 SQ-JVFL 軟件,可以提供最完整的分析功能,包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和帶隙計算。這些參數是生產產量控制和效率建議的關鍵因素,這使得 QE-RX 成為光伏行業的最佳合作伙伴。
.用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接觸、雙面和 TOP-Con 硅太陽能電池
.提供 QE(量子效率)、PV-EQE(外部量子效率)、IPCE(入射光子-電子轉換效率)、SR(光譜響應)、IQE(內部量子效率)和反射率方面的數據。
.結構緊湊且重復性高超過 99.5%。
.波長范圍:300~1200 nm
.Jsc損失分析和報告(使用SQ-JVFLA軟件)。
.職業損失分析和報告(使用SQ-JVFLA軟件)。
.FF損失分析和報告(使用SQ-JVFLA軟件)。
.提供的EQE不確定度評估報告和經ISO/IEC 17025認證的質量控制,可用于期刊論文投稿。
.多樣化和定制化的樣品測試裝置。
QE-RX光伏電池效率損失分析儀 可用于:
*PERC / HJT / TOP-Con 光伏太陽能電池效率-損失分析
*IEC-60904-8 光譜響應測量
*IEC-60904-7 失配系數計算
*IEC-60904-1 MMF 校正
*矽太陽能電池加工質量控制
*矽太陽能電池帶隙測定
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